工業標準搜尋諮詢服務
找不到您所需要的標準資料嗎?
歡迎來電洽詢。
請撥打 +886 2 27993110
或透過電子郵件與我們聯絡 standards@hintoninfo.com

組織/文章編號
IEC
搜尋結果:找到 7216 筆資料

頁面路徑選單

  • 【組  織】IEC
  • 【文件編號】IEC 60793-2-60
  • Optical fibres – Part 2-60: Product specifications – Sectional specification for category C singlemode intraconnection fibres - Edition 1.0

  • 【日  期】2008/2/1
  • 【語  言】English; French
  • 【狀  態】Active
  • 【組  織】IEC
  • 【文件編號】IEC TS 61994-4-3
  • Piezoelectric and dielectric devices for frequency control and selection – Glossary – Part 4-3: Materials – Materials for dielectric devices - Edition 1.0

  • 【日  期】2008/2/1
  • 【語  言】English
  • 【狀  態】Active
  • 【組  織】IEC
  • 【文件編號】IEC 61834-11
  • Recording – Helical-scan digital video cassette recording system using 6,35 mm magnetic tape for consumer use (525-60, 625-50, 1125-60 and 1250-50 systems) – Part 11: HDV format for 1080i and 720p systems - Edition 1.0

  • 【日  期】2008/2/1
  • 【語  言】English
  • 【狀  態】Active
  • 【組  織】IEC
  • 【文件編號】IEC 60519-7
  • Safety in electroheat installations – Part 7: Particular requirements for installations with electron guns - Edition 2.0

  • 【日  期】2008/2/1
  • 【語  言】English; French
  • 【狀  態】Active
  • 【組  織】IEC
  • 【文件編號】IEC 61496-3
  • Safety of machinery – Electro-sensitive protective equipment – Part 3: Particular requirements for Active Opto-electronic Protective Devices responsive to Diffuse Reflection (AOPDDR) - Edition 2.0

  • 【日  期】2008/2/1
  • 【語  言】English; French
  • 【狀  態】Active
  • 【組  織】IEC
  • 【文件編號】IEC TR 62513
  • Safety of machinery – Guidelines for the use of communication systems in safety-related applications - Edition 1.0

  • 【日  期】2008/2/1
  • 【語  言】English; French
  • 【狀  態】Active
  • 【組  織】IEC
  • 【文件編號】IEC 60748-2-20
  • Semiconductor devices – Integrated circuits – Part 2-20: Digital integrated circuits – Family specification – Low voltage integrated circuits - Edition 2.0

  • 【日  期】2008/2/1
  • 【語  言】English; French
  • 【狀  態】Active
  • 【組  織】IEC
  • 【文件編號】IEC 60749-38
  • Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory - Edition 1.0

  • 【日  期】2008/2/1
  • 【語  言】English; French
  • 【狀  態】Active
  • 【組  織】IEC
  • 【文件編號】IEC 60738-1-1
  • Thermistors – Directly heated positive step-function temperature coefficient – Part 1-1: Blank detail specification – Current limiting application – Assessment level EZ - Edition 3.0

  • 【日  期】2008/2/1
  • 【語  言】English; French
  • 【狀  態】Active
  • 【組  織】IEC
  • 【文件編號】IEC 60738-1-2
  • Thermistors – Directly heated positive step-function temperature coefficient – Part 1-2: Blank detail specification – Heating element application – Assessment level EZ - Edition 2.0

  • 【日  期】2008/2/1
  • 【語  言】English; French
  • 【狀  態】Active