資料搜尋諮詢服務

找不到您所需要的資料嗎?
我們能協助您找到最符合您研究需求的資訊
請撥打 +886 2 27993110
或透過電子郵件與我們聯絡 sales@hintoninfo.com



IHS_EWBIEEE xploreSTRATEGY ANALYTICSIHS_EWB_GF

頁面路徑選單

IHShttp://www.hintoninfo.com.tw/

IEEE_bar

 

IEEE Xplore資料庫結合內容彙編自全球技術期刊的 INSPEC 參考書目摘要資料庫,收錄所有出版品的全頁影像。資料庫之內容包含所有圖表、照片及圖片資料的完整原始頁面影像,從集成電路圖到地形圖、甚至新結晶體的照片皆一併收錄。所有的文章、報告及技術標準文件皆以PDF 電子檔方式呈現,每份文件皆以 DOI 數位物件識別碼標註,確保永久及便利的資料存取。超過三百萬份以上的全文館藏使您不費吹灰之力即可取得全球30%以上的電機、電子、資訊科學文獻。

 

IEEE Xplore 結合易於操作的使用者介面及強大的搜尋工具,使您能更快速、簡便的搜尋相關研究。

 

 

IEEE Xplore 透過完整健全的搜尋瀏覽功能,提供您便利、及時的資料庫使用管道。您可透過關鍵字、關鍵詞、文章標題、作者、目錄項目及其他條件對持續更新的資料庫進行搜尋。而在搜尋到您所需的資料後,您可以閱讀、下載及列印個別文件或報告、搜尋結果清單、目錄、書目紀錄和多媒體文件。

 

  • 透過尖端研究驅動新想法、設計及應用
  • 藉由對科技產業環境之了解開發更優質的解決方案
  • 掌握新科技進化、保持領先地位,進行競爭者的標竿研究
  • 透過先行研究文獻回顧,減少資源投入、增加生產效率
  • 單一整合的先行研究使用管道加速創新及專利開發
  • 增加學術產出及新研究之發展

 

產品介紹:請點此下載